原位加热和电学系统

FUSION

可以在电镜内对样品同步进行加热并施加电场。利用这个系统,可以观察动态过程和场效应协助的沉积反应。


研究材料热性能和电性能表征

分析结果与TEM & SEM成像以及其他分析工具相关联

           PtCo 纳米颗粒                                                AuAg 纳米颗粒

           700 ℃                                                       EDS, 400 ℃

           图片由美国橡树岭国家实验室提供                             图片由曼彻斯特大学提供

                          

           富勒烯                                                        铁电体纳米颗粒

           1200 ℃                                                       700 ℃

           图片由CIC nanoGUNE提供                                      图片由Dr. Matias Acosta提供

                         

           ZnO/Al2O3 纤维                                                Ti上Au纳米颗粒

           750 ℃                                                        EBSD

           图片由 Dr. Hessam Ghassemi提供                              图片由JEOL USA提供

                           









            稳定速度快 具有最小的位移

Fusion将新型低功率 E-chip™ 技术与采用特殊合金制成的样品杆相结合来散热。加热实验中实验结果具有最小的热漂移。温度在几百摄氏度范围变化时热漂移仅有几纳米,即使对样品加热及淬火过程进行最高放大倍率的观察时,也可以很容易地对感兴趣区域进行追踪。 

            精确度&均匀性
温度精确性来源于热的均匀性。一个非均匀的加热表面不具有单一温度,因此不可能知道样品的精确温度。Fusion专利的陶瓷加热技术将加热器和样品支撑区域集成到同一个薄膜上,该薄膜温度均匀性优于99.5%
            电学表征
TEM 与SEM中电学测试面临的最基本挑战是:表征纳米尺度样品的电学性能时所需的电流非常小。这些电流通常小于1 nA,并且必须被精确地加载和测量以确保结果的精确性。Fusion是一个全方位的系统,可提供几pA的测量,灵敏度可达到aA。拥有30多种不同的电学芯片可供选择,样品支撑区域适用于每一种应用。
            电热性能表征

直至目前,根据电镜内温度观察并测量电性能是不可能的。电热芯片具有一个含钨电极的SiC加热器,使得研究者能够在高温下进行这些实验。电热功能将Fusion加热和电学模式结合到同一个易于操作的软件界面,从而同时具备加热和电学模式的所有功能及参数。









     附加FIB薄层                                                 EDS图谱

     适用于SEM 或TEM内的热&电表征                              材料转变↓


避免放电

在绝缘材料上施加温度

EBSD

相转变和重结晶

加热&冷却

尺寸可达到70μm





软件控制与成像同步

SEM热&电表征

可通过强大、直观的Clarity™ 软件控制实验。程序设置电学和/或热刺激的波形,或者按照你的想法改变参数。通过可绘出结果 的可视化用户界面实时观察数据结果。可选配ImageSync™软件实现成像及加热和电学数据视频之间的同步,使您更加快速、简单地分析实验结果。

同一个应用于TEM的E-chip支撑物可同样应用于SEM内的Fusion SEM样品台。使用SE和BSE分析SEM内相关实验结果的形态及组成分布。SEM和TEM可完美地相结合,分析样品和关联数据,以形成材料性能的全貌。

EDS分析

双倾斜

EDS分析是进行原位材料研究必需的工具。 通过与电镜厂商的紧密合作,所有的Fusion样品杆均进行过优化,以最大化地收集EDS信号,即使是在零α倾斜的时候。

平稳的α和β倾斜以及速度可调的手指触摸控制来保证样品杆定位的精确性及稳定性。在β角转动时, E-Chip和电极一起倾斜,提供了优异的机械及电学稳定性, 同时触控检测技术保证了电镜的安全。














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